Hệ Thống Đo Lường EIS Hioki EA5503

Hệ Thống Đo Lường EIS Hioki EA5503

Hệ thống đo lường Hioki EA5503 là một giải pháp đo phổ trở kháng điện hóa (Electrochemical Impedance Spectroscopy – EIS) chuyên dụng cho các tế bào pin lớn, được thiết kế để đáp ứng nhu cầu khắt khe trong việc kiểm tra và đánh giá các dòng pin Lithium-ion thế hệ mới, pin thể rắn và các hệ thống lưu trữ năng lượng quy mô lớn.

Các Đặc điểm Nổi bật

Khả năng đo đa kênh (Multi-channel)

Hệ thống được thiết kế để có thể mở rộng số kênh đo, cho phép kiểm tra đồng thời nhiều tế bào pin hoặc nhiều điểm trên một hệ thống pin lớn. Điều này giúp tối ưu hóa thời gian trong các chu kỳ thử nghiệm kéo dài.

Dải tần số rộng và chính xác

EA5503 cung cấp dải tần số đo từ mức cực thấp (mHz) đến cao (kHz/MHz), giúp bao quát toàn bộ các phản ứng hóa học và vật lý bên trong pin:

• Tần số thấp: Phân tích quá trình khuếch tán ion (Warburg impedance).

• Tần số cao: Phân tích điện trở thuần và độ tự cảm của các cực pin.

Độ phân giải và Chống nhiễu tuyệt vời

Với các dòng pin công suất lớn, tín hiệu phản hồi thường bị nhiễu bởi dòng điện vận hành. EA5503 sử dụng công nghệ xử lý tín hiệu tiên tiến của Hioki để lọc nhiễu, đảm bảo biểu đồ Nyquist thu được mượt mà và chính xác ngay cả khi pin đang ở trạng thái nạp/xả.

Tích hợp phần mềm phân tích chuyên sâu

Hệ thống đi kèm với phần mềm PC cho phép:

• Vẽ biểu đồ Nyquist và Bode trong thời gian thực.

• Mô phỏng mạch điện tương đương (Equivalent Circuit Fitting) để xác định các thông số vật lý cụ thể của pin.

Các Tính năng vượt trội

• Đo EIS đa dải tần số: Thu thập dữ liệu trở kháng liên tục trong dải tần số rộng, từ DC đến tần số cao, đáp ứng nhu cầu mô hình hóa Nyquist, Bode.

• Độ chính xác và ổn định cao: Sử dụng nền tảng phần cứng và thuật toán đo lường của Hioki, đảm bảo kết quả tái lập tốt, phù hợp báo cáo khoa học và nghiên cứu định lượng.

• Giao tiếp với phần mềm ALDAS‑α: Hỗ trợ kết nối và điều khiển từ phần mềm ALDAS‑α, cho phép thiết lập thí nghiệm, thu thập dữ liệu, phân tích mô hình và xuất báo cáo trực tiếp.

• Thiết kế modul, mở rộng linh hoạt: Có thể kết hợp với các mô‑đun Sense Module (EA5301‑xx) để mở rộng số kênh đo, thích ứng theo nhu cầu thí nghiệm đa biến và đa cell.

Lợi ích khi sử dụng hệ thống EA5503

• Kiểm soát chất lượng vượt trội: Phát hiện sớm các lỗi tiềm ẩn trong cấu trúc pin mà các phương pháp đo áp (V) hay trở kháng đơn thuần (AC-IR) không thấy được.

• Tối ưu hóa quy trình R&D: Giúp các kỹ sư hiểu rõ tác động của nhiệt độ và trạng thái sạc (SoC) lên nội trở pin.

• Tính đồng bộ cao: Dễ dàng tích hợp vào các hệ thống thử nghiệm tự động hóa trong nhà máy.

Thông số kỹ thuật: