Thiết bị thử nghiệm va đập nhiệt độ thấp IEC60884-1 Figure 27 and Figure 42 cho phích cắm

Thiết bị thử nghiệm va đập nhiệt độ thấp IEC60884-1 Figure 27 và Figure 42 cho ống cách điện chân cắm, phích cắm và ổ cắm

1. Giới thiệu tổng quan

Thiết bị thử nghiệm va đập ở nhiệt độ thấp (Low temperature impact test apparatus) được thiết kế và chế tạo đáp ứng nghiêm ngặt theo các tiêu chuẩn kỹ thuật quốc tế: IEC60884-1 điều 24.4/hình 27 và điều 30.4/hình 42, IEC60811-1-4 điều 8.5, VDE0620, GB2951.4, GB2099.1 điều 24.4 và 30.4 hình 27 & hình 42. Thiết bị thử nghiệm va đập ở nhiệt độ thấp cần được vận hành kết hợp với buồng thử nghiệm nhiệt độ thấp (tủ lạnh âm sâu) và phải được đặt trên một tấm đệm cao su xốp dày 40mm.

Thiết bị thực hiện thử nghiệm va đập từ độ cao rơi 100mm với quả nặng rơi 100g hoặc 1000g tác động lên ống bọc cách điện của chân cắm (pin-insulating sleeves), phích cắm và ổ cắm ở điều kiện nhiệt độ thấp theo đúng yêu cầu kiểm định của IEC60884-1 điều khoản 24.4 và 30.4. Sau khi thử nghiệm, ống lót cách điện không được xuất hiện vết nứt khi quan sát bằng mắt thường hoặc thị lực đã hiệu chỉnh mà không dùng kính phóng đại phụ trợ, đồng thời mẫu thử không được có bất kỳ hư hỏng nào.

Ngoài ra, thiết bị còn có khả năng thực hiện thử nghiệm va đập rơi từ độ cao 100mm đối với cáp nguồn, cáp mềm và dây dẫn có lớp cách điện và vỏ bọc bằng PVC ở nhiệt độ thấp. Khối lượng của quả nặng rơi được xác định dựa theo đường kính ngoài tổng thể của cáp, đáp ứng các yêu cầu thử nghiệm của IEC60811-1-4 điều 8.5 và hình 1. Sau khi thử nghiệm, vỏ bọc cách điện không được có vết nứt quan sát được bằng mắt thường hoặc thị lực hiệu chỉnh mà không cần độ phóng đại bổ sung.

2. Thông số kỹ thuật chi tiết